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商品详情
X荧光分析仪
X-RAY荧光光谱仪 X-RAY荧光分析仪
X射线荧光分析仪应用领域，主要应用于科研及X荧光光谱仪领域，对于ROHS检测、
检测、合金检测、塑料检测、土壤重金属检测、矿石、材料检测以及石油检测。
技术参数:
一、分析范围S U·
精度 RSD≤0.05% Au≥90%
测试样品的物理状态固体、粉末、液体.
光管电压5KV~50KV/ .
高压电源5~50KV.
光管管流50uA~1000Ua.
CCD摄像头
准直器\滤光片自动切换系统
探测器Amptek Si-Pin/SDD.
分辨率Si-pin160+5eVISDD13515eV.
测试时间30sec ~300sec.
ROHS分析常见元素 Cd、Pb、Hg、Br、Cr、C1.
分析软件:定性定量分析软件.
